荧光测厚仪
1. 目的
确保仪器的正确使用及测量值的准确性。
2. 适用型号
荧光测厚仪（XRAY XULM）
3.
4.4.1开启仪器电源(包含照明和高压开关)，打开FTM软件,按“确定”完成开机步骤.
4.2关闭FTM软件，关闭计算机，关闭荧光测厚仪TT220。
5.测量准备
5.1仪器预热. 打开FTM软件后,点击“进入光谱”图标.按动测量图标开始不间断测量.1800s后按动测量图标停止测量,再按动退出图标,即完成预热过程。
5.2基准测量.在进行基准测量前必须先预热仪器.精确定位元素Ag的位置,不能偏移.一个星期做一次“基准测量”.
5.3将元素Ag置于工作台上,调整其位置并聚焦清晰,使其清楚显示在视频窗口十字线中央(仪器上有手动调节清晰度和山下左右调节杆)。
5.4选择菜单“一般------基准测量”,按动“开始基准测量”按纽开始基准测量.
5.5基准测量结束时,显示“基准测量完成,接受?”信息,按“确定”完成基准测量.如果显示“不需要做基准测量”信息,则按“确定”,再按“取消”退出即可.
6.进行测量
6.1根据待测样品的镀层情况,点击菜单“选择 ”寻找相应的程式.时代航宇
6.2将样品置于工作台上,调整其位置并聚焦清晰,使其清楚显示在视频窗口十字线中央(仪器上有手动调节清晰度和山下左右调节杆)。
6.3按显示屏左下角的按纽“开始 (S)”或仪器控制台上的“START”键开始测量,倒计时结束后即完成一次测量.
7.测量注意事项
7.1测量时间的选择.测量时间越长稳定度越好.单镀层不少于15秒,双镀层和合金比例测
量时间不少于30秒,三镀层测量时间不少于45秒,镀液盐离子浓度测量时间在30---60秒之间.
7.2如果测量结束后,出现“错误:不能测量”及“错误:光谱无效”信息,此时应进行如下操作:检查所测样品镀层情况是否与所选择的产品程式一致;进行底材修正;进行基准测量.
7.3测量之前应先检查待测样品的底材成份与设定的底材是否一致.方法是直接测量底材,如果测量结果偏离零点较大,则应进行底材修正.把底材放在工作台上,选择菜单“调校------底材修正”,当出现“元素:测量产品的底材物料”后,按“确定”进行底材修正即可.
7.4报表抬头的编辑和打印.选择菜单“结果高精度计算------所有数据结果计算”进入“计算”应用窗口,点击“列印表格范本”栏,在最上面的文本框输入抬头,完成后点击屏幕左下角的“列印”再“确定”即可.
7.5要打印样品图片,必须先保存样品图片.选择菜单“影象-----储存影象”,出现“另存为”窗口,在文件名处输入要保存图片的名称. 选择菜单“影象-----列印影象”,在“打开”中选择要打印的图片文件.
7.6打印测量数据.选择菜单“结果计算---单一数据结果计算”进入“数据组结果”窗口;
选择要打印的测量数据组;选择按纽“读数”并打开窗口,在其中显示当前数据组的每个读数;选择按纽“列印”,则该组的测量数据写入打印缓冲区;如果要打印该组的统计结果,按“数据组结果”窗口中的“列印”按纽. 涂层测厚仪可显示打印缓冲区的内容.如果要打印,按“打印”按纽即可.也可选择菜单“文件------列印”
进行打印.
7.7调校产品程式.选择要调校的产品程无损检测仪 式,选择菜单“调校”开始进行调校,屏幕左下角的指令窗口
会出现下一步的操作指示,按照指示放置相应的材料和标准片进行测量.如果一个纯元素或底材要测量几次,轻轻移动标准片或底材几次.调校结束后, “输入调校标准”窗口出现,按“确定”结束调校.